|
1. 介绍
SHD3000衍射计在分析领域中有很广泛的应用,从纺织品质地到薄膜分析、张力测定和反射计等。
在测定层厚度和分析半导体组分的时候,借助高性能、高分辨率的衍射仪,您可以很轻松地获得很好的结果。
高分辨率的反射计研究中可以借助SHD3000来确定层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度。
2. SHD 3000的特点
• 有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器,微处理器可通过电脑串行接口控制
• 高亮玻璃和陶瓷的X-射线管,在直线和点的焦点位置快速旋转
• X-Y和旋转台的电子管屏蔽
• 应用Max-FluxTM 光学系统的平行光束光路
• Eulerian cradle可以使样品片刻就排列在一起
• 通过带有光学编码器的步进电动机进行精确定位的高精度,高速度的测角仪
• 所有电机具有七级自由度
• 大尺寸X-Y-Z（X, Y, Z可调节, X, Y为150mm, Z为25mm）机械样品支架可以测量200mm的样品圆片或者其他类型的样品
• 用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo辐射的二级单色器
• 花岗岩工作台为测角仪提供了高的机械稳定性
• 降低背景值或提高强度的使用填充氙气的比例、闪烁计数器、固体状态、线性和弯曲位敏检测器（PSD）
• 使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系统,在32位环境下进行数据处理和仪器控
3. 应用
• 纺织业
• 薄膜分析
• 应变测量
• 半导体中的反射、层厚度、组分、密度、表面和接触面的粗糙程度 |
